Диагностирование приборов для радиационных измерений

  • ОГЛАВЛЕНИЕ
  • Аналогично тестируется сигнатурный анализатор
  • Программа управляющая работой средств
  • Контрольно-проверочные каскады
  • Каскады
  • Функциональная завершенность каскада или узла
  • Практика создания программно-управляемой измерительной аппаратуры
  • Повышение тесто пригодности аппаратуры
  • Усилитель-дискриминатор
  • Время экспозиции
  • Методы проверки специализированных узлов и блоков
  • Напряжений питания
  • Контроль напряжения
  • Проведение самодиагностирования аппаратуры
  • Цель тестовых программ
  • Аппаратура с развитыми устройствами вывода оператору
  • Вывод диагностической информации
  • Тестовые модули
  • Управляемые коммутаторы тестовыми сигналами
  • Программы само диагностирования измерительного прибора
  • Состав программно-управляемой аппаратуры для измерения
  • Способы хранения тестовых программ
  • Само диагностирование
  • САМОДИАГНОСТИРОВАНИЕ АППАРАТУРЫ
  • Целевые программы
  • Диалоговое тестирование
  • Метод конструирования программ контроля
  • Традиционная технология создания программ проверки устройств конкретного типа
  • Системно-прикладное программное обеспечение
  • Программное обеспечение КДС
  • Данные сформированные в моделирующей программе
  • Интеграция контрольно-диагностических устройств и САПР
  • Многочисленные модели контрольно-диагностических систем
  • Универсальное программное
  • Спецпроцессор произвольных тестов
  • Работа спецпроцессора сопряжения
  • Специальный пакет программ
  • Программное обеспечение системы КОДИАК
  • Контрольно-диагностический автоматизированный комплекс КОДИАК
  • Универсальные контрольно-диагностические комплексы
  • Сочетание методов
  • Выполнения комбинированного контрольно-проверочного устройства
  • Операции вычисления сигнатур
  • Алгоритм, использованный в анализаторе для вычисления сигнатуры
  • Методы логического и сигнатурного анализа
  • Условия запуска
  • Построение комплексов
  • Многократные и достаточно сложные измерения
  • Функции комплекса
  • Компоненты КДС
  • Комбинированная диагностическая аппаратура
  • Контрольно-диагностические комплексы и системы
  • Использование логических анализаторов
  • Функциональные возможности
  • Временные диаграммы
  • Характеристика логического анализатора
  • Регистрация данных
  • Круг сервисных возможностей
  • Распространение логических анализаторов
  • Длина регистрируемых логических последовательностей
  • Типичные анализаторы временных диаграмм
  • Выбор режимов сбора данных
  • Эталонное ОЗУ
  • Универсальные логические анализаторы
  • Детектирование помехи
  • Современные быстродействующие логические схемы
  • Характеристики АВД
  • Анализатор временных диаграмм
  • Задержка на определенное число периодов синхронизации
  • Запуск АЛС
  • Запуск анализатора
  • Сформированный компараторами зондов
  • Вводы зонда
  • Анализатор логических состояний
  • Логические анализаторы
  • Работа с многопроцессорными системами
  • Возможность загрузки программы
  • Направления развития внутрисхемных эмуляторов
  • Просмотр результатов после исполнения программы
  • Исполнение программ в пошаговом режиме
  • Инициализация данных в любых регистрах микропроцессора
  • Управление работой внутрисхемного эмулятора
  • Работа внутрисхемного эмулятора
  • Плата процессора
  • Внутрисхемный эмулятор ICE-80
  • Внутрисхемный эмулятор
  • Структура внутрисхемного эмулятора
  • Эмуляция устройств источников
  • Эмуляция памяти
  • Эмуляция микропроцессоров
  • Возможность использования внутрисхемного эмулятора
  • Переходного кабеля
  • Внутрисхемные эмуляторы
  • Тестирование с помощью анализаторов
  • Документирование сигнатур
  • Универсальные контрольно-проверочные устройства
  • Сигнатурный анализатор
  • Проверка микропроцессоров
  • Проверка ПЗУ
  • Сигнатурные анализаторы
  • Цифровые логические элементы
  • Тестирование некоторых устройств
  • Память системы
  • Аналого-цифровой анализатор сигнатур типа 819
  • Анализатор сигнатур типа 818
  • Тестирующие воздействия
  • Приборы, выпускаемые промышленностью
  • Контрольные точки
  • Эффективность применения сигнатурного анализа
  • Этапы разработки
  • Методы- сжатия двоичных последовательностей в сигнатуру
  • Принцип сигнатурного анализа
  • УНИВЕРСАЛЬНЫЕ СРЕДСТВА ПРОВЕРКИ ПРОГРАММНО-УПРАВЛЯЕМОЙ АППАРАТУРЫ
  • Примеры специализированного стенда
  • Использование специализированных проверочных устройств
  • Специальные стенды
  • Устройства верного отбора
  • Амплитудный анализатор
  • Метод определения уровня собственных шумов ППД
  • Значение энергетического разрешения
  • Чувствительность к потоку частиц
  • Общие методы измерений
  • Проверка детектирующих элементов
  • Факторы наблюдаемости
  • Способы управления цифровой схемой
  • Оценка тестируемости функциональных устройств
  • Полученные при испытаниях коды
  • Ложные эффекты
  • Влияние эффектов
  • Методика измерения характеристики преобразования аналого-кодового преобразователя
  • Проверка амплитудно-кодовых преобразователей
  • Центр амплитудного распределения
  • Линейные импульсные
  • Проверка линейных импульсных усилителей
  • Временные характеристики интегрирующих цепей
  • Измерение характеристики преобразования аналогового логарифмического ИСЧ
  • Измерительная характеристика для ИСЧ
  • Цифровой ИСЧ
  • характеристики счетных устройств
  • Многообразие функциональных узлов
  • Цель тестирования функциональных узлов
  • Тестирование функциональных узлов
  • Проверка правильности соединения
  • Электромеханический манипулятор
  • Зонды матричных контактных приспособлений
  • Методика организации автоматизированной проверки печатных плат
  • Предварительное диагностирование печатных плат
  • Проверка печатных плат
  • Аппаратные средства
  • Результаты проверки
  • Проверка жгутов и кабелей
  • Методика проверки
  • Микросхемы цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей
  • Тестирование микросхем ЦАП и АЦП
  • Правильность исполнения команд пересылки
  • Проверка на основе генератора
  • Программы диагностирования микропроцессоров
  • Решение задачи диагностирования микропроцессоров
  • Проверку микросхем ПЗУ
  • Тестирование БИС ПЗУ
  • Генератор тестовых кодов
  • Эффективные тесты
  • Тесты микросхем
  • Эффективность тестирования
  • Микросхемы статических ОЗУ
  • Тестирование БИС статических ОЗУ
  • Система SOCRATES
  • Снижение сложности
  • Построение тестовых программ
  • ДИАГНОСТИРОВАНИЕ КОМПОНЕНТОВ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ
  • АКПУ приемники
  • Выбор состава АКПУ
  • Имитация специализированного внешнего прибора
  • Источник данных в АКПУ
  • Виды современных приборов
  • Имитаторы внешних устройств
  • Варианты загрузки кодов
  • Приемники кодовых реакций
  • Коды амплитуд импульсов-реакций
  • Код реакции
  • Пример структуры приемника импульсных реакций
  • Приемники импульсных реакций
  • Узел-приемник потенциальных сигналов
  • Приемники потенциальных сигналов
  • Передача кодовых воздействий
  • Задачи имитации команд
  • Применение генератора
  • Генераторы кодовых стимулирующих воздействий
  • Сигнал стробирования
  • Формирователь сигналов
  • Основной вклад в погрешность передачи сигнала
  • Выработка сигналов
  • Наличие сигнала противоположной полярности
  • Диапазон импульсов
  • Импульсы заряда от 10"16 до 10"12 Кл
  • Формирователь имитирующий сигналы детектора
  • Формирователи амплитуды
  • Тактовый вход
  • Регистр хранения управляющего слова
  • Уровни интеграции
  • Сигнал УЗС
  • Работа ГП
  • Выполнение генератора последовательности
  • Форма и временное параметры сигналов
  • Генераторы импульсных стимулирующих воздействий
  • Уровень выходного сигнала
  • США и сигнала записи
  • ОСНОВНЫЕ КОМПОНЕНТЫ АКПУ
  • Проверка программно-управляемых приборов
  • Системные эмуляторы
  • Данные соответствующие реальным
  • Правильное функционирование измерительных комплексов
  • Системные эмуляторы
  • Контрольно-проверочные устройства
  • Сигнал Тт
  • Байтный обмен данными
  • Сопоставление машинных магистралей
  • Единые технические решения
  • Состав контрольно-проверочного устройства
  • Применение БИС контроллера
  • Структура автоматизированных контрольно-проверочных устройств
  • Однокристальные контроллеры
  • Существенное снижение стоимости диагностического оборудования
  • Однокристальные микропроцессоры
  • Системная шина ППЭВМ
  • Системные электронные модули
  • Микро-ЭВМ семейства СМ 1810
  • Типичная 8-разрядная микро-ЭВМ СМ 1800
  • Системный интерфейс КТС
  • Микро-ЭВМ семейства "Электроника К1"
  • Комплексы ДВК
  • Старшие модели ДВК-3, ДВК-ЗМ2 и ДВК-4
  • Модель ДВК-1
  • Адресное пространство
  • Диалоговые вычислительные комплексы (ДВК)
  • Стандартные периферийные устройства
  • Простейшие комплекты микро-ЭВМ "Электроника 60"
  • Специфика алгоритма проводимого контроля
  • Особенности системного интерфейса МПИ
  • Микро-ЭВМ "Электроника 60"
  • Наиболее распространенные средства микропроцессорной техники
  • Выбор микропроцессорной базы АКПУ
  • Повышение удобства
  • Измерительная аппаратура
  • ПОСТРОЕНИЕ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ КОНТРОЛЬНО-ПРОВЕРОЧНЫХ УСТРОЙСТВ
  • Показания практики
  • Измерительная аппаратура
  • Самодиагностирование аппаратуры
  • Вычислительные мощности микро-ЭВМ
  • Автоматизация контрольно-проверочных операций
  • Сложность генераторов
  • Импульсы всех видов
  • Многообразие радиоэлементов, функциональных узлов
  • Специализированные контрольно-проверочные устройства
  • Применение специализированных диагностических приборов
  • Эмуляторы магистрали
  • Автономный эмулятор
  • Внутрисхемные эмуляторы
  • Выполнение  этих операций
  • Эмуляторы
  • Основная задача анализаторов временных диаграмм
  • Задача анализатора логических состояний
  • Логические анализаторы
  • Сигнатурный анализ
  • Сигнатурный анализ
  • Генераторы логических состояний
  • Технические проверки
  • Применение обычных приборов
  • Средства диагностирования приборов
  • Аппаратные и программные средства
  • Создание измерительной аппаратуры
  • Распознавание технического состояния приборов
  • Компоненты работающие на пределе
  • Компоновка измерительных приборов
  • Экономическая выгода
  • Микро схемы
  • Диагностирование на разных стадиях
  • Функциональные узлы
  • Причины неисправности
  • Состав контрольно-измерительной аппаратуры
  • Импульсные усилители
  • Импульсы заряда
  • Элементная база аппаратуры для измерения ионизирующих излучений
  • Состав приборов вычислительно-управляющих устройств
  •  ПРОБЛЕМЫ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ
  • Облик современной аппаратуры
  • Различие алгоритмов диагностирования
  • Операции проверки
  • Инженерно-технические работники
  • Характеристики специальных устройств
  • Технические процессы в ядерном приборостроении
  •    Страницы: «1»