Построение тестовых программ

Построение тестовых программ

При тестировании микросхем используют программы нескольких видов. В первом случае в памяти хранят полную тестовую Последовательность, определяющую все действия при проверке; Однако такие программы могут занимать довольно большой объем памяти. Другой метод основан на алгоритмическом генерировании теста, когда тестовая последовательность вырабаты-8ается по мере ее исполнения. В соответствии с программой, хранимой в памяти, в процессе проверки по мере исполнения команд формируются входные сигналы и выходные реакции, ожидаемые для входных кодов. Хотя при таком способе можно существенно сократить объем тестовой программы, трудоемкость разработки алгоритма и этой программы значительно возрастает. Распространена проверка микросхем и путем сравнения их с эталоном - заведомо исправной ИС данного типа. В этом случае на испытываемую и эталонную микросхему подаются от общего источника питания одни и те же сигналы, а выходные сигналы с обеих микросхем сравниваются между собой.

Существуют два подхода к построению тестовых программ. В первом случае микросхему рассматривают как устройство с известными функцией и характеристиками, но неизвестной структурой, топологией и видами отказов. Однако для микросхем, содержащих функционально завершенные устройства (блоки), программы тестирования могут оказаться достаточно сложными и громоздкими.


24.04.2018