Снижение сложности

Снижение сложности

Для снижения сложности тестовых программ предложен блочный подход, в соответствии с которым в микросхеме тестируются завершенные функциональные блоки, входящие в микросхему (образующие эту микросхему). Каждый из этих блоков проверяется по своему тесту, а затем тесты блоков объединяются в общий тест микросхемы. Основная трудность в этом случае состоит в необходимости проработки специальной стратегии тестирования, оптимального разбиения БИС на тестируемые функциональные блоки, выбора соответствующих средств тестирования этих блоков.

За последние годы автоматизированная аппаратура тестового контроля и испытаний БИС быстро развивается. Так, за рубежом многие фирмы выпускают большие универсальные и дорогостоящие системы проверки БИС, специализированные устройства для тестирования микросхем определенного вида, настольные тестеры и т. п.

Стоит отметить еще одну тенденцию, проявляющуюся в последние годы. Для значительного сокращения трудоемкости составления тестов (в особенности для проверки СБИС со сложной структурой) и ускорения процесса генерации тестов создаются системы автоматической генерации тестов, являющиеся одной из разновидностей систем автоматизации проектирования конструкторской документации.


21.04.2018