Тестирование БИС статических ОЗУ

Микросхемы статических ОЗУ используют во многих узлах измерительной аппаратуры, входящих в состав как вычислительно-управляющего ядра, так и накопителей первичной информации. Этим определяется то внимание, которое уделяется проверке исправности этих Микросхем. С увеличением информационной емкости микросхем ОЗУ растет длительность тестов, необходимых для их проверки. При числе элементов памяти (ЭП) в матрице п число внутренних состояний ОЗУ близко к 2", и из-за большого времени тестирования проверка всех возможных состояний микросхем ОЗУ нереальна уже при п-> 100. Поэтому на практике применяют ограниченные тесты, различающиеся по сложности, времени исполнения, требуемым ресурсам, а также по полноте проверки, точности диагностирования и информации, которую получают в результате тестирования.

Выделяют следующие типы тестовых проверок:

статическое функциональное тестирование, направленное на проверку (с той или иной степенью полноты) функционирования микросхем ОЗУ, а не на определение ее параметров;

полное тестирование, включающее функциональное тестирование, контроль динамических параметров (времени адреса, минимальное время чтения и записи данных и т. п.), проверку динамического поведения ИС (и выявления, в частности, кодозависимых неисправностей).


21.04.2018