Тесты микросхем

Тесты микросхем

Этот тест обладает слабыми свойствами контроля и позволяет выявить только обрыв или замыкание в матрице ЭП. Более эффективен тест типа "Шахматный код", при котором в соседние элементы матрицы памяти записывается противоположная информация. Набор 55Н (01010101) и ААН (10101010) записывается поочередно по каждому адресу и затем считывается. Известны несколько модификаций этого теста. Достаточно распространен тест типа бегущая (шагающая) единица". В этом случае по каждому адресу последовательно записываются и затем считываются числа 00, 01, 02, 04, 08, 10, 20, 40 и 80. Такой тест проверяет способность каждого ЭП переходить из состояния "0" в состоянии "1" и обратно и контролирует влияние операций записи в отдельном элементе на сохранность данных в остальных элементах Матрицы.

Стремление найти более эффективные тесты привело к разработке многих вариантов проверки работы микросхем ОЗУ, различающихся длительностью и разной степенью выявления функциональных отказов. Чем больше информационная емкость ОЗУ, тем больше длительность теста, необходимого для проверки микросистемы. В зависимости от связи длительности теста с числом ЭП тестовые проверки делят на три типа: типа л, типа л32 и типа; описаны и более длительные тесты вида л3 (тест типа "дождь").


24.04.2018