Тестирование микросхем ЦАП и АЦП

Микросхемы цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей, такие, как К572ПА1, К572ПА2, К1108ПА1, К572ПВ1, К572ПВ4, К1113ПВ1 и др., широко используются в измерительных трактах различных узлов аппаратуры для измерения ионизирующих излучений. Стих исправности во многом зависят метрологические характеристики этой аппаратуры. Поэтому микросхемы ЦАП и АЦП часто являются объектом автономного тестирования.

Обычно проверку указанных микросхем ограничивают измерением значений коэффициентов преобразования цифрового кода в значение выходного аналогового сигнала КЦА для ЦАП и амплитуды или значения входного аналогового сигнала в цифровой код на выходе микросхемы КАП для АЦП. При этом определяют несколько значений коэффициента преобразования для разных величин входного сигнала АЦП или разных цифровых кодов для ЦАП, т. е. устанавливают интегральную нелинейность характеристик преобразования. Если результаты этих измерений оказываются удовлетворительными, проверяемую микросхему считают исправной. Динамические характеристики, значение дифференциальной нелинейности характеристики преобразования и т. п. при автономной проверке измеряют довольно редко.


21.04.2018